各向异性测量系统2-MGEM椭圆计

Hinds Instruments 公司的2-MGEM椭圆仪是一种用于测量米勒矩阵样本的正常入射偏振反射显微镜。它可以用来评估RTISO 核燃料热解碳层的光学各向异性（OPTAF)。该系统是根据Dr.G.e.Jellison Jr等人在在论文中提出的“使用双调制器广义椭圆测微显微镜（2-MGME)的垂直入射广义椭圆仪。该椭圆仪是一个重大的突破，光学各向异性测量技术更快、收集更多的数据。该系统是围绕两个Hinds Instruments 系列I 光弹性调制器（PEMs)建立.Hinds Instruments公司是基于PEM偏振调制原理的科研和工业仪器和技术的开发商。PEM被广泛应用于高灵敏度光学测量设备的研究和开发应用。2-MGEM椭圆仪测量光束偏振状态的变化，这些光偏振束态是由TRISO燃料 颗粒的各层反射而来的。该系统采用高精度定位平台，测量点大小为5 μm，在被测量的每个燃料颗粒上收集数千个点。通过自动化软件计算并报告了各个采样点的线性衰减、线性延迟和反射强度。然后用这些参数计算每个热解炭层(IPyC 和OPyC)的OPTAF测定。

Hinds Instruments 2-MGEM椭圆仪由四个主要部件组成：

  扫描模块
 主电机外壳
 光源
 计算机系统