4
010-68214292
您的位置:首页>光学测量>光学材料测试>商品详情
双折射(应力)测量系统 EXICOR-SYSTERMS
Birefringence Measurement System
Exicor测量通过正在研究的光学样品沿着光路积分的延迟。它旨在测量并显示延迟轴的大小和方向。
独特的设计(专利申请中)消除了光学系统中的移动部件,并避免了在测量角度之间切换的必要性。 氦氖激光束被偏振,然后被PEM调制。 调制后的光束通过样品传输并分配一个分光镜。 每束光束通过分析仪、光学滤光片和光电探测器
的组合。 电子信号通过一个锁定放大器处理,提供非常低的信号检测。