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双折射（应力）测量系统 EXICOR-SYSTERMS

概述

Exicor®双折射测量技术于1999年推出，型号为150AT，为客户提供技术，具有生产价值的测量双折射的能力。Exicor系统的高灵敏度是Hinds Instruments的PEMLabs™技术的产品，该技术推出了低双折射光弹性调制器（PEM）。PEM的调制纯度增强了Exicor的灵敏度，这是调制器的谐振特性的结果。 PEM的调制频率为50 kHz，提供快速测量功能。双检测器光学系统的设计与PEM科学相结合，提供了一个重要特性：光学系统中没有移动部件。 移动部件的缺失产生高机械可靠性以及测量的可重复性，并允许同时测量幅度和角度。Exicor测量通过正在研究的光学样品沿着光路积分的延迟。它旨在测量并显示延迟轴的大小和方向。设计减去了光学系统中的移动部件，并避免了在测量角度之间切换。 氦氖激光束被偏振，然后被PEM调制。 调制后的光束通过样品传输并分配一个分光镜。 每束光束通过分析仪、光学滤光片和光电探测器的组合。 电子信号通过一个锁定放大器处理，提供非常低的信号检测。

由Hinds仪器公司的软件算法将来自电子模块的信号电平转换为可以确定线性双折射的参数。计算机从两个输入中选择，允许从两个信号通道进行连续测量。 分析数据，然后显示延迟大小和轴角度并存储在文件中。 当在自动映射模式下操作时，x-y平移阶段将把样本移动到下一个预定的测量位置。 结果以用户指定的格式即时显示。