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双折射(应力)测量系统 EXICOR-PV-Si
Birefringence Measurement System
Hinds仪器的’Exicor® 双折射测量系统PV-Si是工作平台的扩展。本系统采用高质量的对称光弹性调制器、1550 nm激光和Ge雪崩光电二极管探测器,实现了光伏和半导体工业中硅材料的高精度双折射测量,除硅外,还可测量蓝宝石、碳
化硅、硒锌、镉等材料。PV-Si铸锭模型坚固、通用,可容纳和测量直径达8英寸的500毫米粗锭。台面设计和直观的自动扫描软件使该产品成为原材料改进、研发和日常评估的最佳选择,也是对原始硅锭和其他高技术材料进行评估的最佳选
择。
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