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双折射(应力)测量系统-EXICOR OIA
Birefringence Measurement System
Hinds Instruments 的ExicorOIA是透镜、平行面光学、曲面光
学在正常和斜入角度评估的主要双折射测量系统。该系统是建
立在Hinds lnsrtuments 获奖光弹调制器( PEM)基于Exicor®双
折射测量技术。新一代的双折射测量系统为该行业提供了分析
和开发下一代光刻透镜、透镜毛坯和高价值精密光学的新能
力。
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